本文介紹了一些足以表現(xiàn)出一個(gè)晶體振蕩器性能高低的技術(shù)指標(biāo)，了解這些指標(biāo)的含義，將有助于通訊設(shè)計(jì)工程師順利完成設(shè)計(jì)項(xiàng)目，同時(shí)也可以大大減少整機(jī)生產(chǎn)廠家的采購成本。
 
　　1．總頻差：在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，由于規(guī)定的工作和非工作參數(shù)全部組合而引起的晶體振蕩器頻率與給定標(biāo)稱頻率的zui大頻差。 

　　說明：總頻差包括頻率溫度穩(wěn)定度、頻率溫度準(zhǔn)確度、頻率老化率、頻率電源電壓穩(wěn)定度和頻率負(fù)載穩(wěn)定度共同造成的zui大頻差。一般只在對(duì)短期頻率穩(wěn)定度關(guān)心，而對(duì)其他頻率穩(wěn)定度指標(biāo)不嚴(yán)格要求的場合采用。例如：精密制導(dǎo)雷達(dá)。 

　　2．頻率溫度穩(wěn)定度：在標(biāo)稱電源和負(fù)載下，工作在規(guī)定溫度范圍內(nèi)的不帶隱含基準(zhǔn)溫度或帶隱含基準(zhǔn)溫度的zui大允許頻偏。 

　　fT=±（fmax-fmin）/（fmax+fmin） 
　　fTref＝±MAX（fmax-fref）/fref,（fmin-fref）/freffT：頻率溫度穩(wěn)定度（不帶隱含基準(zhǔn)溫度）fTref：頻率溫度穩(wěn)定度（帶隱含基準(zhǔn)溫度）fmax：規(guī)定溫度范圍內(nèi)測得的zui高頻率fmin：規(guī)定溫度范圍內(nèi)測得的zui低頻率fref：規(guī)定基準(zhǔn)溫度測得的頻率 

　　說明：采用fTref指標(biāo)的晶體振蕩器其生產(chǎn)難度要高于采用fT指標(biāo)的晶體振蕩器,故fTref指標(biāo)的晶體振蕩器售價(jià)較高。